紫外可見光譜儀是專門針對不同行業(yè)(如環(huán)保行業(yè))用戶的需求，為方便使用，提高工作效率而開發(fā)的產品。鋁質外殼緊湊牢固，而且便于更換所有部件。儀器體積小，重量輕，適合放置到任何實驗臺上。
 

　　紫外可見光譜儀還有許多根據(jù)用戶的建議和實際經驗而改進的地方。比如耐化學腐蝕的表面和便于維修更換部件的側面開門等。該儀器配備先進的CCD光學系統(tǒng)設計先進可靠的RF發(fā)生器，簡化了安裝和培訓要求。按照EPA標準預先設置好分析方法，適合分析：金屬、水/廢水、土壤、泥污、濾渣等。儀器設備緊湊，占用面積小，樣品流程非常短，因此大大縮短了分析時間和沖洗時間。
 

　　紫外可見光譜儀的兩大校正方式：
 

　　1.波長校正
 

　　波長校正是為使實際波長同檢測器檢出波長相一致。大致可分為兩部分：
 

　　首先通調整儀器來對設備進行校正，然后是通過漂移補償?shù)霓k法減少因環(huán)境的變換導致譜線產生位移。光譜校正是儀器實際測得的波長與理論波長之間出現(xiàn)的偏差別進行的校正，一般是通過測試一系列元素的波長來進行校正，校正后所得數(shù)據(jù)即為對光譜彼進行校正的校正數(shù)據(jù)。漂移補嘗是因為光普儀光譜線位移與波長、溫度、濕度、壓力變化之間有非線性函數(shù)關系，這種函數(shù)關系具有普遍適用性。其中零級光譜線隨波長、溫度變化產生的位移z大。漂移補償是一種常規(guī)監(jiān)視過程，其原理是在進樣間歇期間，監(jiān)測多條氫線波長，將實際值與理論值相比較，并對誤差進行補償。
 

　　2.分析校正
 

　　分析校正是為了讓所測元素濃度與儀器所檢測到的光強度建立起聯(lián)系，就是我們常說的做標準曲線，事先配好的標樣值，再讓儀器對其進行檢測，讓檢測值與濃度之間建立起關系曲線，未知樣品濃度按照該曲線及所；剛得濃度值得出。在ICP-OES的分散正中，檢測值與濃度之間一般是線性關系。在實際工作中，存在其他元素峰對所測元素峰有干擾的情況時，可以通過調節(jié)計算方法及火焰觀測方式來減小誤差，提高線性相關系數(shù)。這里需要說明線性相關系數(shù)是準確度的必要不充分條件。